Локализация как низкоомных (< 1 кОм), так и высокоомных (> 1 кОм) повреждений КЛ беcпрожиговыми методами:
Подробнее
- импульсный метод (метод импульсной рефлектометрии, TDR)
- импульсно-дуговой метод (метод отражения от кратковременной электрической дуги, ARM)
- метод колебательного разряда по току (волновой по току, ICE)